E5071C-010时域分析TDR功能 增强时域分析选件可对高速串行互连进行全面表征，增强您对设计的信心，所有选件均可升级，保护您的投资

表面电阻率电导率测试增强时域分析选件可对高速串行互连进行全面表征，增强您对设计的信心，所有选件均可升级，保护您的投资

PCB电路板介电常数测试提供 130 dB 宽广的动态范围、8 ms 快速测量速度和 0.005 dB/℃ 温度稳定度，可改善测量精度、提高产品良率并增加设计裕量

SIPDR电阻率测试夹具用于测量超材料和电阻膜的表面阻抗，以及用于半导体晶片的电导率的非接触式测量；可以测量的薄膜材料范围包括表面阻抗Rs 20kΩ/sq的电阻层、金属薄膜和导电聚合物薄膜。

SPDR介电测试夹具用于测量层状介电材料的复介电常数，包括LTCC衬底以及沉积在低损耗介电衬底上的铁电薄膜；